天創(chuàng)美公司將于2012年5月10日-12日參加于上海光大會展中心舉行的第六屆中國銅工業(yè)展覽會。中國銅業(yè)展是目前國內(nèi)規(guī)模大，具影響力的專業(yè)展覽會，屆時將會吸引10多個和地區(qū)的銅及銅材企業(yè)參與，約15個和地區(qū)的7000多名專業(yè)觀眾到會參觀采購。

    本次參展，華唯將攜新研發(fā)出的620M儀器參展。620M是本公司經(jīng)過長時間技術(shù)積淀，潛心研發(fā)出來的專門針對合金成分分析的一款X射線熒光光譜儀。相較之前產(chǎn)品，它在測試精度、速度以及操作方法上都具有很大的提升。620M能測試輕元素Al、Si、P、S；測試時間快，測試一個樣品的時間不超過400S；測試準確，在無含量干擾元素存在的情況下，大相對誤差不超過1.0%，含量小于1%的成分，相對誤差不超過5%。此外，該產(chǎn)品還帶批量樣品測試功能，可實現(xiàn)無人值守連續(xù)測試。借著此次行業(yè)展會，華唯將順勢推出該款精密合金分析儀器。

   時間：2012年5月10日-12日

   地點：上海光大會展中心